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MultiTrench 1D

La technologie MultiTrench

Construire un détecteur microstrip est délicat, en outre l'ILL ne disposait que d'un seul fournisseur de plaques et la qualité de sa production était en baisse. Comment, alors, avoir les avantages de la technologie microstrip sans ses inconvénients.

La réponse du SDN est la technologie Trench-MWPC (trench - Multi Wire Proportional Counter) que nous appelerons MultiTrench dans ce qui suit. Elle tire partie d'un atelier mécanique très bien équipé (machine 4-axes, électro-érosion, etc.) et de mécaniciens capables de s'attaquer aux projets que les soutraitants refusent.

Une vue d'ensemble de l'atelier SAE/SDN
©2022 ILL & ecliptique.com (Laurent Thion)
Sylvain Cuccaro et la machine 4-axes
©2022 ILL & ecliptique.com (Laurent Thion)
Sylvain et la machine à électro-érosion
©2022 ILL & ecliptique.com (Laurent Thion)

En bref ...

Les microstrips (pistes sur verre) avaient déjà permis un gain considérable de taut de comptage par rapport aux multidétecteurs à fils tendus (MWPC) mais il subsistait plusieurs difficultées :

  • l'avalanche d'électrons entre cathodes et anodes arrosait plusieurs pistes microstrip à la fois, ce qui rendait imprécise la localisation de l'impact du neutron
  • ?????

La technologie multitrench remplace les pistes sur verre par des rainures à parois fines taillées dans l'aluminium par électroérosion. Les avantages sont :

  • les fils des anodes sont à l'intérieur des rainures et l'avalanche électronique se produit donc au sein d'une seule cellule du détecteur et ne bave pas sur les cellules voisines.
  • les distances entre fils peuvent être plus faible, ce qui accroit la résolution du détecteur
  • les hautes tension nécessaires sont plus basse
  • le taut de comptage accessible est encore plus élevé du fait de l'absence d'interaction entre cellules
  • ?????
Innovation ILL : invention des multidétecteurs à neutron de type trench-MWPC à très haut taux de comptage. C'est la technologie la plus avancée au moment où nous écrivons ces lignes (2022).

Références :
J.C. Buffet et al. (2017) JINST 12 C12009

Jean-Claude Buffet intervient sur une plaque microtrench du détecteur du diffractomètre XtremD
©2022 ecliptique.com Laurent Thion
Le détail d'une plaque microtrench montrant les fils de cathode et les sillons taillés par électroérosion dans l'aluminium
©2022 ecliptique.com Laurent Thion
Gros plan montrant les fils tendus, les plaques et leurs sillons
©2022 ecliptique.com Laurent Thion
Nicolas Sartor empile les plaques constituant le détecteur avec une précision globale de 2 microns
©2022 ecliptique.com Laurent Thion
Régularité d'espacement des plaques, alignement des sillons, absence de voilage, centrage des fils, tout est contrôlé au microscope
©2022 ecliptique.com Laurent Thion
 

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Dernière mise à jour: 12 May 2022